- Titre
- Electromagnetic Susceptibility of low frequency bipolar transistors subject to the total ionizing dose effect
- Créateurs - sans rôle
- Adrien Doridant - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESJérémy Raoult - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESAmable Blain - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESSylvie Jarrix - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESLaurent Dusseau - Université de Montpellier, Centre Spatial de l'Université de Montpellier - CSUMNathalie ChatryPatrick Hoffmann - CEA GramatPhilippe Calvel - Thales Alenia Space [Toulouse]
- Colloque
- EMC Compo (Dubrovnik, Croatia, 15/11/2011)
- Identifiants
- 9945452309311
- Unité académique
- Centre Spatial de l'Université de Montpellier - CSUM; Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- hal-01893981
Acte de colloque
Electromagnetic Susceptibility of low frequency bipolar transistors subject to the total ionizing dose effect
EMC Compo (Dubrovnik, Croatia, 15/11/2011)
Indicateurs
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