- Titre
- Electro-thermal short pulsed simulation for SOI technology
- Créateurs - sans rôle
- Christophe Entringer - STMicroelectronics [Crolles]Philippe Flatresse - STMicroelectronics [Crolles]Philippe Galy - STMicroelectronics [Crolles]Florence Azaïs - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesPascal Nouet - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
- Détails de publication
- 17th European Symposium Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis
- Colloque
- ESREF: European Symposium on Reliability of Electron devices, Failure physics and analysis (Wuppertal, Germany, 03/10/2006–06/10/2006)
- Identifiants
- 9947438409311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00112981
Acte de colloque
Electro-thermal short pulsed simulation for SOI technology
17th European Symposium Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis
ESREF: European Symposium on Reliability of Electron devices, Failure physics and analysis (Wuppertal, Germany, 03/10/2006–06/10/2006)
2006
Indicateurs
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