- Titre
- Electrically-Induced Thermal Stimuli for MEMS Testing
- Créateurs - sans rôle
- Norbert Dumas - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesFlorence Azaïs - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesLaurent Latorre - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesPascal Nouet - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
- Détails de publication
- 9th IEEE European Test Symposium, pp.60-65
- Colloque
- ETS: European Test Symposium (Ajaccio, Corsica, France, 23/05/2004–26/05/2004)
- Identifiants
- 99151801909311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00108904
Acte de colloque
Electrically-Induced Thermal Stimuli for MEMS Testing
9th IEEE European Test Symposium, pp.60-65
ETS: European Test Symposium (Ajaccio, Corsica, France, 23/05/2004–26/05/2004)
2004
Indicateurs
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