- Titre
- Electrical Simulation Model of the 2T-FLOTOX Core-Cell for Defect Injection and Faulty Behavior Prediction in eFlash Memories
- Créateurs - sans rôle
- Olivier Ginez - Centre National de la Recherche ScientifiqueJean-Michel Daga - Atmel (France)Patrick Girard - Centre National de la Recherche ScientifiqueChristian Landrault - Université de Montpellier, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMMSerge Pravossoudovitch - Université de MontpellierArnaud Virazel - Université de Montpellier
- Détails de publication
- 12th IEEE European Test Symposium, pp.77-82
- Colloque
- ETS: European Test Symposium (Freiburg, Germany, 20/05/2007–24/05/2007)
- Identifiants
- 9942218609311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00158543
Acte de colloque
Electrical Simulation Model of the 2T-FLOTOX Core-Cell for Defect Injection and Faulty Behavior Prediction in eFlash Memories
12th IEEE European Test Symposium, pp.77-82
ETS: European Test Symposium (Freiburg, Germany, 20/05/2007–24/05/2007)
2007
Indicateurs
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