- Titre
- Electrical Behavior of GOS Faults in Domino Logic
- Créateurs - sans rôle
- Mariane Comte - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesSatoshi Ohtake - Nara Institute of Science and TechnologyHideo Fujiwara - Nara Institute of Science and TechnologyMichel Renovell - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
- Détails de publication
- DDECS'05: IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, pp.210-215
- Colloque
- DDECS'05: IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (Sopron, Hungary, 13/04/2005–16/04/2005)
- Identifiants
- 9946049209311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00105991
Acte de colloque
Electrical Behavior of GOS Faults in Domino Logic
DDECS'05: IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, pp.210-215
DDECS'05: IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (Sopron, Hungary, 13/04/2005–16/04/2005)
2005
Indicateurs
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