- Titre
- Electrical Behavior of GOS Fault Affected Domino Logic Cell
- Créateurs - sans rôle
- Mariane Comte - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesSatoshi Ohtake - Nara Institute of Science and TechnologyHideo Fujiwara - Nara Institute of Science and TechnologyMichel Renovell - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
- Détails de publication
- DELTA'06: IEEE International Workshop on Electronics DesignTest & Applications, pp.183-189
- Colloque
- DELTA'06: IEEE International Workshop on Electronics DesignTest & Applications (Kuala Lumpur, Malaysia, 17/01/2006–19/01/2006)
- Identifiants
- 9944448909311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00102703
Acte de colloque
Electrical Behavior of GOS Fault Affected Domino Logic Cell
DELTA'06: IEEE International Workshop on Electronics DesignTest & Applications, pp.183-189
DELTA'06: IEEE International Workshop on Electronics DesignTest & Applications (Kuala Lumpur, Malaysia, 17/01/2006–19/01/2006)
2006
Indicateurs
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