- Titre
- Effective Launch-to-Capture Power Reduction for LOS Scheme with Adjacent-Probability-Based X-Filling
- Créateurs - sans rôle
- Kohei Miyase - Kyushu Institute of TechnologyYuta Uchinodan - Kyushu Institute of TechnologyKazunari Enokimoto - Kyushu Institute of TechnologyYuta Yamato - Nara Institute of Science and TechnologyXiaoqing Wen - Kyushu Institute of TechnologySeiji Kajihara - Kyushu Institute of TechnologyFangmei Wu - Université de Montpellier, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMMLuigi Dilillo - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesAlberto Bosio - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesPatrick Girard - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesArnaud Virazel - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
- Détails de publication
- 20th IEEE Asian Test Symposium, pp.21-23
- Colloque
- ATS: Asian Test Symposium (New Delhi, India, 2011)
- Identifiants
- 9945831109311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00651247
Acte de colloque
Effective Launch-to-Capture Power Reduction for LOS Scheme with Adjacent-Probability-Based X-Filling
20th IEEE Asian Test Symposium, pp.21-23
ATS: Asian Test Symposium (New Delhi, India, 2011)
21/11/2011
Indicateurs
1 Consultations de la notice