- Titre
- Effect of a thermal annealing on the radiation induced degradation on bipolar technologies when the dose rate is switched from high to low
- Créateurs - sans rôle
- S. Ducret - Centre d'Electronique et de Micro-optoélectronique de MontpellierFrédéric Saigné - Centre d'Electronique et de Micro-optoélectronique de MontpellierJ. Boch - Centre d'Electronique et de Micro-optoélectronique de MontpellierJ.-R. Vaillé - Centre d'Electronique et de Micro-optoélectronique de MontpellierL. Dusseau - Centre d'Electronique et de Micro-optoélectronique de Montpellier
- Colloque
- 41th IEEE Nuclear Space and Radiation Effects Conference (Atlanta, United States, 2004)
- Identifiants
- 9944663909311
- Unité académique
- Université de Montpellier
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- hal-01806831
Acte de colloque
Effect of a thermal annealing on the radiation induced degradation on bipolar technologies when the dose rate is switched from high to low
41th IEEE Nuclear Space and Radiation Effects Conference (Atlanta, United States, 2004)
Indicateurs
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