- Titre
- Dynamic Two-Cell Incorrect Read Fault due to Resistive-Open Defects in the Sense Amplifiers of SRAMs
- Créateurs - sans rôle
- Alexandre Ney - Université de Montpellier, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMMPatrick Girard - Université de MontpellierChristian Landrault - Université de Montpellier, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMMSerge Pravossoudovitch - Université de MontpellierArnaud Virazel - Université de MontpellierMagali Bastian Hage-Hassan - Infineon Technologies France
- Détails de publication
- 12th IEEE European Test Symposium, pp.97-104
- Colloque
- ETS: European Test Symposium (Freiburg, Germany, 20/05/2007–24/05/2007)
- Identifiants
- 9942221109311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00158116
Acte de colloque
Dynamic Two-Cell Incorrect Read Fault due to Resistive-Open Defects in the Sense Amplifiers of SRAMs
12th IEEE European Test Symposium, pp.97-104
ETS: European Test Symposium (Freiburg, Germany, 20/05/2007–24/05/2007)
2007
Indicateurs
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