Dynamic-Stress Neutrons Test of Commercial SRAMs

Paolo Rech; Jean-Marc J.-M. Galliere; Patrick Girard; Frédéric Wrobel; Frédéric Saigné; Luigi Dilillo

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Acte de colloque

Dynamic-Stress Neutrons Test of Commercial SRAMs

Paolo Rech, Jean-Marc J.-M. Galliere, Patrick Girard, Frédéric Wrobel, Frédéric Saigné et Luigi Dilillo

IEEE Nuclear and Space Radiation Effects Conference, pp.1-4

IEEE Nuclear and Space Radiation Effects Conference (Las Vegas, NV, United States, 25/07/2012–29/07/2012)

2011

Résumé

Neutron

Soft Errors

Dynamic Stress

SRAM

We present a new dynamic test protocol for stressing irradiated commercially available SRAMs. Experimental results attest that cell-level stress must be applied to measure an accurate neutron-induced error rate of devices under working conditions.

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Détails

Titre: Dynamic-Stress Neutrons Test of Commercial SRAMs
Créateurs - sans rôle: Paolo Rech - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
Jean-Marc J.-M. Galliere - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
Patrick Girard - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
Frédéric Wrobel - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
Frédéric Saigné - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
Luigi Dilillo - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
Détails de publication: IEEE Nuclear and Space Radiation Effects Conference, pp.1-4
Colloque: IEEE Nuclear and Space Radiation Effects Conference (Las Vegas, NV, United States, 25/07/2012–29/07/2012)
Identifiants: 9947774109311
Unité académique: Institut d'Electronique et des Systèmes - IES; Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
Langue: English
Type de ressource: Conference proceeding
Champs locaux: lirmm-00805349