Dose and Dose Rate Effects in Micro-Electronics: Pushing the Limits to Extreme Conditions

Acte de colloque

Philippe Adell et Jérôme Boch

IEEE Nuclear and Space Radiation Effects Conference (NSREC), Short Course 2014 (Paris, France, 2014)

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Titre: Dose and Dose Rate Effects in Micro-Electronics: Pushing the Limits to Extreme Conditions
Créateurs - sans rôle: Philippe Adell
Jérôme Boch - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
Colloque: IEEE Nuclear and Space Radiation Effects Conference (NSREC), Short Course 2014 (Paris, France, 2014)
Identifiants: 9942738009311
Unité académique: Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
Langue: English
Type de ressource: Conference proceeding
Champs locaux: hal-01932591