- Titre
- Dispersion study of DC and Low Frequency Noise in SiGe:C Heterojunction Bipolar Transistors used for mm-Wave to Terahertz applications
- Créateurs - sans rôle
- Marcelino Seif - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESF. Pascal - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESBruno Sagnes - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESAlain Hoffmann - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESS. Haendler - STMicroelectronics [Crolles]Pascal Chevalier - STMicroelectronics [Crolles]Daniel Gloria - STMicroelectronics
- Colloque
- 25th EUROPEAN SYMPOSIUM ON RELIABILITY OF ELECTRON DEVICES, FAILURE PHYSICS AND ANALYSIS - ESREF 2014 (Berlin, Germany, 29/09/2014)
- Identifiants
- 9945104509311
- Unité académique
- Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- hal-02053281
Acte de colloque
Dispersion study of DC and Low Frequency Noise in SiGe:C Heterojunction Bipolar Transistors used for mm-Wave to Terahertz applications
25th EUROPEAN SYMPOSIUM ON RELIABILITY OF ELECTRON DEVICES, FAILURE PHYSICS AND ANALYSIS - ESREF 2014 (Berlin, Germany, 29/09/2014)
Indicateurs
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