- Titre
- Digital SRAM Modeling for Test
- Créateurs - sans rôle
- Dorian Ronga - Test and dEpendability of microelectronic integrated SysTemsPatrick Girard - Test and dEpendability of microelectronic integrated SysTemsArnaud Virazel - Test and dEpendability of microelectronic integrated SysTems
- Colloque
- 19e Colloque National du GDR SoC² (Lorient, France, 11/06/2025–13/06/2025)
- Identifiants
- 99208118409311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- Anglais
- Type de ressource
- Acte de colloque
- Champs locaux
- lirmm-05568637
Acte de colloque
Digital SRAM Modeling for Test
19e Colloque National du GDR SoC² (Lorient, France, 11/06/2025–13/06/2025)
Indicateurs
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