- Titre
- Determination of the Nanoscale dielectric permittivity by means of a double pass method using EFM
- Créateurs - sans rôle
- Clément Riedel - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESRichard Arinero - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESPhilippe Tordjeman - Institut de Mécanique des Fluides de ToulouseMichel Ramonda - Université de MontpellierGérard Leveque - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESGustavo Ariel Schwartz - Centro de FísicaAngel Alegría - University of the Basque CountryJuan Colmenero - University of the Basque Country
- Colloque
- inanoGUNE ETORTEK 1st Workshop (San Sebastian, Spain, 05/2009)
- Identifiants
- 9937489909311
- Unité académique
- Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- hal-01814138
Acte de colloque
Determination of the Nanoscale dielectric permittivity by means of a double pass method using EFM
inanoGUNE ETORTEK 1st Workshop (San Sebastian, Spain, 05/2009)
Indicateurs
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