- Titre
- Detecting NBTI Induced Failures in SRAM Core-Cells
- Créateurs - sans rôle
- Renan Alves Fonseca - Université de Montpellier, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMMLuigi Dilillo - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesAlberto Bosio - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesPatrick Girard - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesSerge Pravossoudovitch - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesArnaud Virazel - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesNabil Badereddine - Infineon Technologies France
- Détails de publication
- VTS'10: VLSI Test Symposium, pp.75-80
- Colloque
- VTS'10: VLSI Test Symposium (Santa Cruz, CA, United States)
- Identifiants
- 9942261009311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00553612
Acte de colloque
Detecting NBTI Induced Failures in SRAM Core-Cells
VTS'10: VLSI Test Symposium, pp.75-80
VTS'10: VLSI Test Symposium (Santa Cruz, CA, United States)
19/04/2010
Indicateurs
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