- Titre
- Design of an IEEE 1149.4 Test Chip with Extended ABM Functionality
- Créateurs - sans rôle
- Florence Azaïs - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesPascal Nouet - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesUroš Kač - Université de Montpellier, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Mtp - LIRMMFranc Novak - Université de Montpellier, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Mtp - LIRMM
- Détails de publication
- IMSTW'02: 8th IEEE International Mixed-Signal Testing Workshop, pp.pp. 153-159
- Colloque
- IMSTW'02: 8th IEEE International Mixed-Signal Testing Workshop (Montreux (Suisse), France)
- Identifiants
- 9942306609311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Mtp - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00269340
Acte de colloque
Design of an IEEE 1149.4 Test Chip with Extended ABM Functionality
IMSTW'02: 8th IEEE International Mixed-Signal Testing Workshop, pp.pp. 153-159
IMSTW'02: 8th IEEE International Mixed-Signal Testing Workshop (Montreux (Suisse), France)
2002
Indicateurs
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