- Titre
- Deriving an Electrical Model for Delay Faults Caused by Crosstalk Aggravated Resistive Short Defects
- Créateurs - sans rôle
- Nicolas Houarche - Université de Montpellier, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMMAlejandro Czutro - University of FreiburgMariane Comte - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesPiet Engelke - University of FreiburgIlia Polian - University of FreiburgBernd Becker - University of FreiburgMichel Renovell - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
- Colloque
- LATW'09: 10th Latin-American Test Workshop (Armaçao dos Buzios, Brazil, 02/03/2009–05/03/2009)
- Identifiants
- 9942731809311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00367708
Acte de colloque
Deriving an Electrical Model for Delay Faults Caused by Crosstalk Aggravated Resistive Short Defects
LATW'09: 10th Latin-American Test Workshop (Armaçao dos Buzios, Brazil, 02/03/2009–05/03/2009)
2009
Indicateurs
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