- Titre
- Delay Testing of MOS Transistor with Gate Oxide Short
- Créateurs - sans rôle
- Michel Renovell - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesJean-Marc J.-M. Galliere - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesFlorence Azaïs - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesYves Bertrand - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
- Détails de publication
- 12th IEEE AsianTest Symposium, pp.168-173
- Colloque
- ATS: Asian Test Symposium (Xian, China, 16/11/2003–19/11/2003)
- Identifiants
- 9944991009311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00269641
Acte de colloque
Delay Testing of MOS Transistor with Gate Oxide Short
12th IEEE AsianTest Symposium, pp.168-173
ATS: Asian Test Symposium (Xian, China, 16/11/2003–19/11/2003)
2003
Indicateurs
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