- Titre
- Defect Localization Through an Effect-Cause based Intra-Cell Diagnosis
- Créateurs - sans rôle
- Zhenzhou Sun - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesAlberto Bosio - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesLuigi Dilillo - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesPatrick Girard - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesAida Todri-Sanial - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesArnaud Virazel - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
- Colloque
- Colloque GDR SoC-SiP (Paris, France, 2012)
- Identifiants
- 9942691909311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00806841
Acte de colloque
Defect Localization Through an Effect-Cause based Intra-Cell Diagnosis
Colloque GDR SoC-SiP (Paris, France, 2012)
2012
Indicateurs
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