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Defect Analysis for Delay-Fault BIST in FPGAs
Acte de colloque

Defect Analysis for Delay-Fault BIST in FPGAs

Patrick Girard, Olivier Héron, Serge Pravossoudovitch et Michel Renovell
9th IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design, pp.124-128
IOLTS: International On-Line Testing Symposium (Kos, Greece, 07/07/2003–09/07/2003)
2003

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