- Titre
- Dc and Low Frequency Noise analysis of hot-carrier induced degradation of low complexity 0.13 µm CMOS bipolar transistors
- Créateurs - sans rôle
- Patrice Benoit - Centre d'Electronique et de Micro-optoélectronique de MontpellierJérémy Raoult - Centre d'Electronique et de Micro-optoélectronique de MontpellierColette Delseny - Centre d'Electronique et de Micro-optoélectronique de MontpellierFabien Pascal - Centre d'Electronique et de Micro-optoélectronique de MontpellierL. SnadnyJ.C. Vildeuil - STMicroelectronicsMathieu Marin - STMicroelectronics [Crolles]B. MartinetD CottinO. Noblanc
- Colloque
- ESREF (Arcachon, France, 10/10/2005)
- Identifiants
- 9945561509311
- Unité académique
- Université de Montpellier
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- hal-01894365
Acte de colloque
Dc and Low Frequency Noise analysis of hot-carrier induced degradation of low complexity 0.13 µm CMOS bipolar transistors
ESREF (Arcachon, France, 10/10/2005)
Indicateurs
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