- Titre
- D-Scale: A Scalable System-Level Dependable Method for MPSoCs
- Créateurs - sans rôle
- Nicolas Hébert - STMicroelectronics [Crolles]Pascal Benoit - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesGilles Sassatelli - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesLionel Torres - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
- Détails de publication
- 19th IEEE Asian Test Symposium, pp.198-205
- Colloque
- ATS: Asian Test Symposium (Shanghai, China, 2010)
- Identifiants
- 9946931009311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00545123
Acte de colloque
D-Scale: A Scalable System-Level Dependable Method for MPSoCs
19th IEEE Asian Test Symposium, pp.198-205
ATS: Asian Test Symposium (Shanghai, China, 2010)
01/12/2010
Indicateurs
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