Correlation of High Energy Proton and Atmospheric Neutron Destructive and Non-Destructive SingleEvent Effect Tests of a 1200V SiC MOSFET

Hiba Rizk; Catherine Ngom; Vincent Pouget; Alain Michez; Frederic Lachaud; Gilles Le Morvan; Florent Miller; Moustafa Zerarka; Olivier Perrotin; Fabio Coccetti

Acte de colloque

Correlation of High Energy Proton and Atmospheric Neutron Destructive and Non-Destructive SingleEvent Effect Tests of a 1200V SiC MOSFET

Hiba Rizk, Catherine Ngom, Vincent Pouget, Alain Michez, Frederic Lachaud, Gilles Le Morvan, Florent Miller, Moustafa Zerarka, Olivier Perrotin et Fabio Coccetti

Proceedings of RADECS 2023

European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems (RADECS) (Toulouse, France, 25/09/2023–29/09/2023)

Résumé

We present the correlation of high energy proton and atmospheric neutron single-event test results on a recent 1200V SiC MOSFET, obtained with destructive and non-destructive methods. TCAD modelling is used toinvestigate the failure mechanisms.

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Détails

Titre: Correlation of High Energy Proton and Atmospheric Neutron Destructive and Non-Destructive SingleEvent Effect Tests of a 1200V SiC MOSFET
Créateurs - sans rôle: Hiba Rizk - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
Catherine Ngom - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
Vincent Pouget - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
Alain Michez - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
Frederic Lachaud - NUCLETUDES [Les Ulis]
Gilles Le Morvan - NUCLETUDES [Les Ulis]
Florent Miller - NUCLETUDES [Les Ulis]
Moustafa Zerarka - IRT Saint Exupéry
Olivier Perrotin - IRT Saint Exupéry
Fabio Coccetti - IRT Saint Exupéry
Détails de publication: Proceedings of RADECS 2023
Colloque: European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems (RADECS) (Toulouse, France, 25/09/2023–29/09/2023)
Identifiants: 9946443009311
Unité académique: Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
Langue: English
Type de ressource: Conference proceeding
Champs locaux: hal-04308635