- Titre
- Contributions of Channel Gate and Overlap Gate Currents on 1/f Gate Current Noise for Thin Oxide Gate p-MOSFETs
- Créateurs - sans rôle
- Frédéric Martinez - Centre d'Electronique et de Micro-optoélectronique de MontpellierA. Laigle - Laboratoire d'Informatique, de Robotique et de Microélectronique de MontpellierAlain Hoffmann - Laboratoire d'Informatique, de Robotique et de Microélectronique de MontpellierM. Valenza - Laboratoire d'Informatique, de Robotique et de Microélectronique de MontpellierA. Veloso - IMECM. Jurczak - IMEC
- Détails de publication
- NOISE AND FLUCTUATIONS: 18th International Conference on Noise and Fluctuations - ICNF 2005, pp.243-246
- Colloque
- NOISE AND FLUCTUATIONS: 18th International Conference on Noise and Fluctuations - ICNF 2005 (Salamanca (Spain), Spain, 2005)
- Identifiants
- 9942718409311
- Unité académique
- Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- hal-02066689
Acte de colloque
Contributions of Channel Gate and Overlap Gate Currents on 1/f Gate Current Noise for Thin Oxide Gate p-MOSFETs
NOISE AND FLUCTUATIONS: 18th International Conference on Noise and Fluctuations - ICNF 2005, pp.243-246
NOISE AND FLUCTUATIONS: 18th International Conference on Noise and Fluctuations - ICNF 2005 (Salamanca (Spain), Spain, 2005)
Indicateurs
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