- Titre
- Configuring a Universal BIST Solution for CMOS Image Sensors
- Créateurs - sans rôle
- Julia Lefèvre - STMicroelectronics [Grenoble]Philippe Debaud - STMicroelectronics [Grenoble]Patrick Girard - Test and dEpendability of microelectronic integrated SysTemsArnaud Virazel - Test and dEpendability of microelectronic integrated SysTems
- Colloque
- 16e Colloque National du GDR SoC² (Strasbourg, France, 27/06/2022–29/06/2022)
- Identifiants
- 9947659009311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-03988569
Acte de colloque
Configuring a Universal BIST Solution for CMOS Image Sensors
16e Colloque National du GDR SoC² (Strasbourg, France, 27/06/2022–29/06/2022)
Indicateurs
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