- Titre
- Conditions pour le Test de Pannes de Délai des Look-Up Table dans les FPGA à Base de SRAM
- Créateurs - sans rôle
- Patrick Girard - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesOlivier Héron - Université de Montpellier, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMMSerge Pravossoudovitch - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesMichel Renovell - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
- Détails de publication
- 6ièmes Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, pp.381-383
- Colloque
- JNRDM: Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique (Toulouse, France, 14/05/2003–16/05/2003)
- Identifiants
- 9947681809311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- French
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00269544
Acte de colloque
Conditions pour le Test de Pannes de Délai des Look-Up Table dans les FPGA à Base de SRAM
6ièmes Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, pp.381-383
JNRDM: Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique (Toulouse, France, 14/05/2003–16/05/2003)
2003
Indicateurs
1 Consultations de la notice