- Titre
- « Complex dielectric permittivity measurement et the nanoscale using EFM : a prospective study (Invited)
- Créateurs - sans rôle
- Richard Arinero - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Colloque
- Donostia International Physics Center (San Sebastian, Spain, 04/2008)
- Identifiants
- 9946986709311
- Unité académique
- Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- hal-01827084
Acte de colloque
« Complex dielectric permittivity measurement et the nanoscale using EFM : a prospective study (Invited)
Donostia International Physics Center (San Sebastian, Spain, 04/2008)
Indicateurs
1 Consultations de la notice