- Titre
- Comparative study of Bulk, FDSOI and FinFET technologies in presence of a resistive short defect
- Créateurs - sans rôle
- Amit Karel - Laboratoire d'Informatique, de Robotique et de Microélectronique de MontpellierMariane Comte - Université de MontpellierJean-Marc J.-M. Galliere - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesFlorence Azaïs - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesMichel Renovell - Centre National de la Recherche Scientifique
- Détails de publication
- 17th IEEE Latin-American Test Symposium, pp.129-134
- Colloque
- LATS: Latin-American Test Symposium (Foz do Iguacu, Brazil, 06/03/2016–08/03/2016)
- Identifiants
- 9945970709311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-01374300
Acte de colloque
Comparative study of Bulk, FDSOI and FinFET technologies in presence of a resistive short defect
17th IEEE Latin-American Test Symposium, pp.129-134
LATS: Latin-American Test Symposium (Foz do Iguacu, Brazil, 06/03/2016–08/03/2016)
2016
Indicateurs
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