- Titre
- Charge sharing study in the case of neutron induced SEU on 130 nm bulk SRAM modelved by 3-D Device Simulation
- Créateurs - sans rôle
- T. Mérelle - Centre d'Electronique et de Micro-optoélectronique de MontpellierS. SerreFrédéric Saigné - Centre d'Electronique et de Micro-optoélectronique de MontpellierB. Sagnes - Centre d'Electronique et de Micro-optoélectronique de MontpellierG. Gasiot - STMicroelectronics [Crolles]P. Roche - STMicroelectronics [Crolles]T. Carriere - EADS, Corporate Research CenterM.-C. Palau - Centre d'Electronique et de Micro-optoélectronique de Montpellier
- Colloque
- 8th European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems (Cap d'Agde, France, 2005)
- Identifiants
- 9944769009311
- Unité académique
- Université de Montpellier
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- hal-01807186
Acte de colloque
Charge sharing study in the case of neutron induced SEU on 130 nm bulk SRAM modelved by 3-D Device Simulation
8th European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems (Cap d'Agde, France, 2005)
Indicateurs
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