- Titre
- Characterization of Electric Charge in Non-irradiated and Irradiated MOS Structures by Thermal Step and Capacitance–Voltage Measurements
- Créateurs - sans rôle
- P. Notingher - Centre d'Electronique et de Micro-optoélectronique de MontpellierS. Agnel - Centre d'Electronique et de Micro-optoélectronique de MontpellierA. Toureille - Centre d'Electronique et de Micro-optoélectronique de MontpellierB. RoussetJ.-L. Sanchez
- Colloque
- IEEE Annual Conference on Electrical Insulation and Dielectric Phenomena CEIDP (Cancun, Mexico, 2002)
- Identifiants
- 9944937509311
- Unité académique
- Université de Montpellier
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- hal-01878067
Acte de colloque
Characterization of Electric Charge in Non-irradiated and Irradiated MOS Structures by Thermal Step and Capacitance–Voltage Measurements
IEEE Annual Conference on Electrical Insulation and Dielectric Phenomena CEIDP (Cancun, Mexico, 2002)
Indicateurs
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