- Titre
- Characterization and modelling of laser-induced single-event burn-out in SiC power diodes
- Créateurs - sans rôle
- N. MbayeV. Pouget - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESF. Darracq - Laboratoire de l'Intégration du Matériau au SystèmeD. Lewis
- Colloque
- ESREF 2013 (Arcachon, France, 2013)
- Identifiants
- 9936794509311
- Unité académique
- Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- hal-01935694
Acte de colloque
Characterization and modelling of laser-induced single-event burn-out in SiC power diodes
ESREF 2013 (Arcachon, France, 2013)
Indicateurs
1 Consultations de la notice