- Titre
- Characterization and modeling of low frequency noise in 0.13 µm BiCMOS SiGe: C heterojunction bipolar trasnsistors
- Créateurs - sans rôle
- M. Seif - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESF. Pascal - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESB. Sagnes - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESS. Haendler - STMicroelectronics [Crolles]
- Colloque
- 10th Conference on Ph. D. Research in Microelectronics and Electronics - PRIME 2014 (Grenoble, France, 2014)
- Identifiants
- 9945502609311
- Unité académique
- Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- hal-01906169
Acte de colloque
Characterization and modeling of low frequency noise in 0.13 µm BiCMOS SiGe: C heterojunction bipolar trasnsistors
10th Conference on Ph. D. Research in Microelectronics and Electronics - PRIME 2014 (Grenoble, France, 2014)
Indicateurs
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