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"Characterisation of mesostructured TiO2 thin layers by ellipsometric porosimetry"
Acte de colloque

"Characterisation of mesostructured TiO2 thin layers by ellipsometric porosimetry"

V. Rouessac, R. Coustel, F. Bosc, J. Durand et A. Ayral
E-MRS Spring Meeting
2005
2005

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