- Titre
- Caractérisation de laser émettant dans le moyen infrarouge par AFM (Invité)
- Créateurs - sans rôle
- Richard Arinero - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Colloque
- Journée Thématique « Couplage Microscopies Optiques - Microscopie à Force Atomique » (Lille, France, 10/2016)
- Identifiants
- 9947309709311
- Unité académique
- Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- hal-01814133
Acte de colloque
Caractérisation de laser émettant dans le moyen infrarouge par AFM (Invité)
Journée Thématique « Couplage Microscopies Optiques - Microscopie à Force Atomique » (Lille, France, 10/2016)
Indicateurs
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