- Titre
- Caractérisation de contacts et de matériaux par la mesure du bruit Basse Fréquence
- Créateurs - sans rôle
- Fabien Pascal - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESJérémy Raoult - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESBruno Sagnes - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESMarcelino Seif - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESFrédéric Martinez - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESM. Valenza - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Colloque
- 13èmes Journées de la Matière Condensée - JMC13 (Montpellier, France, 28/08/2012)
- Identifiants
- 9945104709311
- Unité académique
- Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Langue
- French
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- hal-02053302
Acte de colloque
Caractérisation de contacts et de matériaux par la mesure du bruit Basse Fréquence
13èmes Journées de la Matière Condensée - JMC13 (Montpellier, France, 28/08/2012)
Indicateurs
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