- Titre
- Biasing methods to mitigate short-channel effects in multiple-gate MOSFETs.
- Créateurs - sans rôle
- Navarro C.Bawedin M. - Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et PhotoniqueAndrieu F.Bruno Sagnes - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESCristoloveanu S. - Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique
- Colloque
- 8th International Advanced Workshop on "Frontiers in Electronics", abstract booklet (WOFE 2013) (San Juan, Puerto Rico, 17/12/2013–20/12/2013)
- Identifiants
- 99153191609311
- Unité académique
- Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- hal-01182116
Acte de colloque
Biasing methods to mitigate short-channel effects in multiple-gate MOSFETs.
8th International Advanced Workshop on "Frontiers in Electronics", abstract booklet (WOFE 2013) (San Juan, Puerto Rico, 17/12/2013–20/12/2013)
12/2013
Indicateurs
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