- Titre
- Automatic Test Pattern Generation for Resistive Bridging Faults
- Créateurs - sans rôle
- P. EngelkeI. PolianMichel Renovell - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesP. Becker
- Détails de publication
- IEEE International Workshop on Current and Defect-Based Testing, pp.89-94
- Colloque
- IEEE International Workshop on Current and Defect-Based Testing (Napa Valley, CA, 05/2004–05/2004)
- Identifiants
- 9944952109311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00108661
Acte de colloque
Automatic Test Pattern Generation for Resistive Bridging Faults
IEEE International Workshop on Current and Defect-Based Testing, pp.89-94
IEEE International Workshop on Current and Defect-Based Testing (Napa Valley, CA, 05/2004–05/2004)
2004
Indicateurs
1 Consultations de la notice