- Titre
- Automatic Test Pattern Generation for Resistive Bridging Faults
- Créateurs - sans rôle
- Piet Engelke - University of FreiburgI. PolianMichel Renovell - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesP. Becker
- Détails de publication
- 9th IEEE European Test Symposium, pp.160-165
- Colloque
- ETS: European Test Symposium (Ajaccio, Corsica, France, 23/05/2004–26/05/2004)
- Identifiants
- 9943773809311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00108902
Acte de colloque
Automatic Test Pattern Generation for Resistive Bridging Faults
9th IEEE European Test Symposium, pp.160-165
ETS: European Test Symposium (Ajaccio, Corsica, France, 23/05/2004–26/05/2004)
2004
Indicateurs
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