- Titre
- Automatic Generation of LH-BIST Architecture for ADC Testing
- Créateurs - sans rôle
- Serge Bernard - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesFlorence Azaïs - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesMariane Comte - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesYves Bertrand - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesMichel Renovell - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
- Détails de publication
- IWADC'03: IEEE International Workshop on ADC Modelling and Testing, pp.7-12
- Colloque
- IWADC'03: IEEE International Workshop on ADC Modelling and Testing (Perugia, Italy, 08/09/2003–10/09/2003)
- Identifiants
- 9944887209311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00269683
Acte de colloque
Automatic Generation of LH-BIST Architecture for ADC Testing
IWADC'03: IEEE International Workshop on ADC Modelling and Testing, pp.7-12
IWADC'03: IEEE International Workshop on ADC Modelling and Testing (Perugia, Italy, 08/09/2003–10/09/2003)
2003
Indicateurs
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