- Titre
- Atomic force microscopy as a suitable tool for probing the polar axis direction in electroactive P(VDF-co-TrFE) films at the nanoscale
- Créateurs - sans rôle
- M.M. Saj Mohan - MESA+ Research InstituteAntonio Da Costa - CatalyseJean-François Tahon - Unité Matériaux et TransformationsVincent Bouad - Unité Matériaux et TransformationsAhmad Hamieh - Nano Hydrophobics (United States)Ahmed Addad - Unité Matériaux et TransformationsAdeline Marin - Unité Matériaux et TransformationsFrédéric Cazaux - Unité Matériaux et TransformationsFreddy Ponchel - Institut d'électronique de microélectronique et de nanotechnologieJean-Marc Lefebvre - Unité Matériaux et TransformationsVincent Ladmiral - Université de Montpellier, Institut Charles Gerhardt Montpellier - ICGMDenis Remiens - Institut d'électronique de microélectronique et de nanotechnologieRachel Desfeux - UCCS Équipe Couches Minces & NanomatériauxSophie Barrau - Unité Matériaux et TransformationsAnthony Ferri - UCCS Équipe Couches Minces & Nanomatériaux
- Colloque
- Matériaux Électroactifs et Applications (MatElec 2022) (Villeneuve d'Ascq, France, 11/07/2022–13/07/2022)
- Identifiants
- 9935300509311
- Unité académique
- Institut Charles Gerhardt Montpellier - ICGM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- hal-03956501
Acte de colloque
Atomic force microscopy as a suitable tool for probing the polar axis direction in electroactive P(VDF-co-TrFE) films at the nanoscale
Matériaux Électroactifs et Applications (MatElec 2022) (Villeneuve d'Ascq, France, 11/07/2022–13/07/2022)
Indicateurs
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