- Titre
- Applications of the Thermal Step Method to the Characterization of Electric Charge in MOS Components
- Créateurs - sans rôle
- O. Fruchier - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESP. Notingher - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESS. Agnel - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESA. Toureille - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESF. Forest - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESS. CunninghamJ.-L. Sanchez - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Colloque
- 42nd Annual Meeting of the IEEE Industry Applications Society IAS (New Orleans, United States, 2007)
- Identifiants
- 9947695609311
- Unité académique
- Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- hal-01882153
Acte de colloque
Applications of the Thermal Step Method to the Characterization of Electric Charge in MOS Components
42nd Annual Meeting of the IEEE Industry Applications Society IAS (New Orleans, United States, 2007)
Indicateurs
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