- Titre
- Applications of Thermal Stimulus Methods to the Study of Electric Charge and Charge-related Phenomena in Microelectronic Structures
- Créateurs - sans rôle
- S. BaudonP. Notingher - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESS. Holé - Laboratoire des Instruments et Systèmes d'Ile de FranceO. Fruchier - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESS. Agnel - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESL. Boyer - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Colloque
- ICSD 2013 - International Conference on solid Dielectrics (Bologne, Italy, 2013)
- Identifiants
- 9944187509311
- Unité académique
- Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- hal-01908826
Acte de colloque
Applications of Thermal Stimulus Methods to the Study of Electric Charge and Charge-related Phenomena in Microelectronic Structures
ICSD 2013 - International Conference on solid Dielectrics (Bologne, Italy, 2013)
Indicateurs
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