- Titre
- Analyzing the Impact of Simultaneous Switching Noise on the Timing Behavior of CMOS Digital Blocks
- Créateurs - sans rôle
- Florence Azaïs - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesYves Bertrand - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesMichel Renovell - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
- Colloque
- LATW'09: 10th Latin-American Test Workshop (Armaçao dos Buzios, Brazil, 02/03/2009–05/03/2009)
- Identifiants
- 99151230009311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00367718
Acte de colloque
Analyzing the Impact of Simultaneous Switching Noise on the Timing Behavior of CMOS Digital Blocks
LATW'09: 10th Latin-American Test Workshop (Armaçao dos Buzios, Brazil, 02/03/2009–05/03/2009)
2009
Indicateurs
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