- Titre
- Analysis of thermal annealing approach to extend electronic device lifetime
- Créateurs - sans rôle
- S. Dhombres - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESA. Michez - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESJ. Boch - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESS. Beauvivre - SystheiaD. Kraehenbuehl - SystheiaF. Saigné - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESJ.-R. Vaillé - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESP. Adell - Jet Propulsion LaboratoryF. BezerraE. Lorfèvre - Centre National d'Études Spatiales
- Colloque
- IEEE RADECS 2015 (Moscou, Russia, 2015)
- Identifiants
- 9942634309311
- Unité académique
- Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- hal-01932427
Acte de colloque
Analysis of thermal annealing approach to extend electronic device lifetime
IEEE RADECS 2015 (Moscou, Russia, 2015)
Indicateurs
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