- Titre
- Analysis of the charge sharing effect in the SET sensitivity of bulk 45nm standard cell layouts under heavy ions
- Créateurs - sans rôle
- Ygor Quadros de Aguiar - Institut d'Électronique et des SystèmesFrédéric Wrobel - Institut d'Électronique et des SystèmesJean-Luc Autran - Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de ProvencePaul LerouxFrédéric Saigné - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESAntoine Touboul - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESVincent Pouget - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Colloque
- 29th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF 2018) (Aalborg, Denmark, 01/10/2018)
- Identifiants
- 9945393809311
- Unité académique
- Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- hal-02086379
Acte de colloque
Analysis of the charge sharing effect in the SET sensitivity of bulk 45nm standard cell layouts under heavy ions
29th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF 2018) (Aalborg, Denmark, 01/10/2018)
Indicateurs
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