- Titre
- Analysis of the Specification Influence on the Efficiency of an Optimized Test Flow for ADCs
- Créateurs - sans rôle
- Mariane Comte - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesFlorence Azaïs - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesSerge Bernard - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesYves Bertrand - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesMichel Renovell - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
- Détails de publication
- 9th IEEE International Mixed-Signal Testing Workshop, pp.185-190
- Colloque
- IMSTW: International Mixed-Signal Testing Workshop (Sevilla, Spain, 25/06/2003–27/06/2003)
- Identifiants
- 9944977909311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00269583
Acte de colloque
Analysis of the Specification Influence on the Efficiency of an Optimized Test Flow for ADCs
9th IEEE International Mixed-Signal Testing Workshop, pp.185-190
IMSTW: International Mixed-Signal Testing Workshop (Sevilla, Spain, 25/06/2003–27/06/2003)
2003
Indicateurs
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