- Titre
- Analysis of Single-Event Effects in DDR3 and DDR3L SDRAMs Using Laser Testing and Monte-Carlo Simulations
- Créateurs - sans rôle
- P. KohlerV. Pouget - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESFrédéric Wrobel - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESF. Saigné - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Colloque
- NSREC 2017 (New Orleans, United States, 2017)
- Identifiants
- 9942079809311
- Unité académique
- Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- hal-01929203
Acte de colloque
Analysis of Single-Event Effects in DDR3 and DDR3L SDRAMs Using Laser Testing and Monte-Carlo Simulations
NSREC 2017 (New Orleans, United States, 2017)
Indicateurs
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