- Titre
- Analysis of Resistive-Open Defects in TAS-MRAM Array
- Créateurs - sans rôle
- João Azevedo - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesArnaud Virazel - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesAlberto Bosio - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesLuigi Dilillo - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesPatrick Girard - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesAida Todri-Sanial - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesGuillaune Prenat - Spintronique et Technologie des ComposantsKen Mackay - Crocus Technology (France)
- Colloque
- ITC: International Test Conference (Anaheim, CA, United States, 18/09/2011–23/09/2011)
- Identifiants
- 99151768709311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00679524
Acte de colloque
Analysis of Resistive-Open Defects in TAS-MRAM Array
ITC: International Test Conference (Anaheim, CA, United States, 18/09/2011–23/09/2011)
2011
Indicateurs
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