- Titre
- Analysis of Power Consumption and Transition Fault Coverage for LOS and LOC Testing Schemes
- Créateurs - sans rôle
- Wu Fangmei - Université de Montpellier, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMMLuigi Dilillo - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesAlberto Bosio - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesPatrick Girard - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesSerge Pravossoudovitch - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesArnaud Virazel - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesJunxia Ma - University of ConnecticutWei Zhao - University of ConnecticutMohammad Tehranipoor - University of ConnecticutXiaoqing Wen - Kyushu Institute of Technology
- Détails de publication
- DDECS'10: 13th IEEE International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, pp.376-381
- Colloque
- DDECS'10: 13th IEEE International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (Vienna, Austria, 14/04/2010–16/04/2010)
- Identifiants
- 9947475309311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00475734
Acte de colloque
Analysis of Power Consumption and Transition Fault Coverage for LOS and LOC Testing Schemes
DDECS'10: 13th IEEE International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, pp.376-381
DDECS'10: 13th IEEE International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (Vienna, Austria, 14/04/2010–16/04/2010)
2010
Indicateurs
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