- Titre
- Analysis of Data Obtained Using the Thermal Step Method on a MOS Structure - An Electrostatic Approach
- Créateurs - sans rôle
- L. Boyer - Université de MontpellierO. Fruchier - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESP. Notingher Jr. - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESS. Agnel - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESA. Toureille - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESB. Rousset - Centre National de la Recherche ScientifiqueJ.-L. Sanchez - Centre National de la Recherche Scientifique
- Colloque
- 2008 IEEE Industry Applications Society Annual Meeting (IAS) (Edmonton, Canada, 05/10/2008–09/10/2008)
- Identifiants
- 9946390909311
- Unité académique
- Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- hal-01762922
Acte de colloque
Analysis of Data Obtained Using the Thermal Step Method on a MOS Structure - An Electrostatic Approach
2008 IEEE Industry Applications Society Annual Meeting (IAS) (Edmonton, Canada, 05/10/2008–09/10/2008)
Indicateurs
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